90Zeta奈米粒徑電位分析儀，電位移測量採用電泳光散射（ELS）原理，通過測量顆粒在電場中的運動速度進而得到zeta電位。一般來說，zeta電位越高，顆粒之間相互排斥越劇烈，分散體系越穩定。

奈米粒徑分佈測量採用動態光散射（DLS）原理，顆粒在懸浮液中進行布朗運動，較小顆粒的移動速度快於較大顆粒，在某個角度檢測記錄散射光強，散射光強的相關曲線體現了顆粒的移動速度，利用這些資訊可以計算顆粒的粒徑。

分子量測量採用靜態光散射（SLS）原理，散射光的強度與分子量直接相關。測量不同濃度中測量散射光強，繪製德拜曲線即可得到樣品分子量。

1.高速測試速度:所有結果可以隨後編輯處理

2.高性能固體雷射器光源:高功率、高穩定性、低維護

3.光源能量調節:根據信號噪點，軟體自己控制光源能量

4.光纖檢測系統:高靈敏度，有效偵測信號噪點比

5.相位分析光散射:準確檢測低電泳遷移率樣品的Zeta電位

6.可拋棄毛細管電極:Zeta電位測試重覆性，避免交叉污染

7.毛細管微量粒徑池:3-5 μL微量樣品檢測和更好的大顆粒測試品質

8.結果自動判斷系統:自動辨別信號品質，消除雜訊干擾

9.靈活的動態計算模式:多種計算模式

奈米粒徑電位儀90Zeta影片介紹:

奈米粒徑電位儀180Zeta影片介紹:

Zeta電位(Zeta Potential)原理理論:是對顆粒之間相互排斥或吸引力的強度量。我們能夠詳細了解分子或顆粒的分散原理，這對靜電分散控制至關重要。奈米顆粒本身帶不帶電荷或者帶什麼電荷並不重要，重要的是，如果Zeta電位儀檢測得到的是正值，就說明奈米顆粒整體表現出來的是正電荷，我們稱之為奈米顆粒表面帶正電；如果Zeta電位儀檢測得到的是負值，就說明奈米顆粒整體表現出來的是負電荷，我們稱之為納米顆粒表面帶負電荷。

Zeta電位的重要意義在於它的數值與膠態分散的穩定性相關。分子或分散粒子越小，Zeta電位的絕對值（正或負）越高，體系越穩定，即溶解或分散可以抵抗聚集。反之Zeta電位(正或負)越低，越傾向於凝結或凝聚，即吸引力超過了排斥力，分散被破壞而發生凝結或凝聚。

Zeta雙電層理論:粒子表面存在的淨電荷，影響粒子周圍區域的離子分佈，導致接近表面抗衡離子（與粒子電荷相反的離子）濃度增加。於是，每個粒子周圍均存在雙電層，熱運動使液相中的離子趨於均勻分佈，帶電表面則排斥同號離子並將反離子吸引至表面附近，溶液中離子的分佈情況由上述兩種相對抗的作用的相對大小決定。

吸附層:一部分反離子由於電性吸引或非電性的特性吸引作用而和表面緊密結合。其餘的離子則擴散地分佈在溶液中，構成雙電層的擴散層。由於帶電表面的吸引作用，在擴散層中反離子的濃度遠大於同號離子，離表面越遠，過剩的反離子越少，直至在溶液內部反離子的濃度與同號離子相等。

PH值影響Zeta電位:，PH值是不可忽視的因素。 Zeta電位對PH作圖在低PH將是正的，在高PH值將是負的，這中間一定有一點會通過零Zeta電位，這一點稱為等電點，是相當重要的一點，通常在這一點膠體是最不穩定的。