雷射粒徑分析儀
雷射粒徑分析儀|粒徑分析-麥斯特科技有限公司
粒徑的定義:當被測顆粒的物理特性或物理行為與某一直徑的同質球體或其組合最相近時,就是把該球體的直徑作為被測顆粒的等效粒徑或粒徑分布。其含義:粒徑測量實質上是通過把被測顆粒和同一種材料構成的圓球相比較而得出的;將待測顆粒的某種物理特性或物理行為與同質球體作比較時,有時能找到某一個確定的直徑的球與之對應,有時則需一組大小不同的球的組合與之對應才能最相近
粒徑分布的定義:所謂粒徑分布,就是粉體樣品中各種大小的顆粒占顆粒總數的比例。當樣品中所有顆粒的真密度相同時,顆粒的重量分布和體積分布一致。在沒有特別説明時,雷射粒徑分析儀給出的粒徑分布一般指體積分布。
雷射粒徑分析儀最大特點是用單雷射光束實現了前向、側向和後向散射光信號的全角度接收—這種技術避免了多光束技術造成的間斷散射光信號的連接偏差和多波長造成的樣品折射率偏差,使測試結果精確。針對各種材料的粒徑大小分析如:
各種非金屬粉:如重鈣、輕鈣、滑石粉、高嶺土、石墨、矽灰石、鎂石、重晶石、雲母粉、膨潤土、矽藻土、黏土、二氧化矽、石榴石、矽酸鋯、氧化鋯、氧化鎂、氧化鋅等。
其它粉體:河流泥沙、鋰電池材料、催化劑、螢光粉、水泥、磨料、醫藥、農藥、食品、塗料、染料、陶瓷原料、化工材料、奈米材料、造紙填料塗料、各種乳液等。
服務內容:溫度測量與校正, 無線wifi溫濕度記錄器, 溫溼度記錄器, 溫度記錄器, 溫度校正槽, 紅外線黑體爐校正槽, 滅菌溫度記錄器, 多功能電量校正器, 材料分析量測, 雷射粒徑分析儀, 儀器出租, 出租-紅外線黑體爐|校正紅外線熱像儀, 出租-紅外線熱成(顯)像儀-人體發燒篩檢專用, 出租-雷射粒徑分析儀, 溫度記錄器
雷射粒徑分析儀-乾溼兩用
粒徑範圍:
溼式:0.02µm-2600µm
乾式:0.1µm-2600µm
重覆性誤差:≤1%(4215A- D50 偏差)
準確性誤差:≤1%(4215A- D50 偏差)
感測器數量:92個
進樣方式:溼式自動循環分散系統|乾式自動進樣系統
光學系統: 正反傅立葉,傾斜樣品池
符合ISO 13320, 21 CFR Part 11, USP
溼式:0.02µm-2600µm
乾式:0.1µm-2600µm
重覆性誤差:≤1%(4215A- D50 偏差)
準確性誤差:≤1%(4215A- D50 偏差)
感測器數量:92個
進樣方式:溼式自動循環分散系統|乾式自動進樣系統
光學系統: 正反傅立葉,傾斜樣品池
符合ISO 13320, 21 CFR Part 11, USP
雷射粒徑分析儀-粒徑分析,折射率計算分析,粉體圖像分析
粒徑範圍:0.01µm-3500µm
圖像分析範圍:2µm -3500µm
重覆性誤差:≤1%(NIST Standards D50 偏差)
準確性誤差:≤1%(NIST Standards D50 偏差)
感測器數量:96個
進樣方式:溼式自動循環分散系統
材料折射率計算,數據接近阿貝折光儀
符合21 CFR Part 11, ISO 13320, USP , CE
圖像分析範圍:2µm -3500µm
重覆性誤差:≤1%(NIST Standards D50 偏差)
準確性誤差:≤1%(NIST Standards D50 偏差)
感測器數量:96個
進樣方式:溼式自動循環分散系統
材料折射率計算,數據接近阿貝折光儀
符合21 CFR Part 11, ISO 13320, USP , CE
奈米粒徑Zeta電位分析儀
粒徑範圍:0.3nm-15µm
Zeta電位適用粒徑範圍:2nm-110µm
分子量測試範圍:342Da—2x10^7Da
應用於:奈米材料製備與奈米材料
符合21 CFR Part 11, ISO 22412, ISO 13099
Zeta電位適用粒徑範圍:2nm-110µm
分子量測試範圍:342Da—2x10^7Da
應用於:奈米材料製備與奈米材料
符合21 CFR Part 11, ISO 22412, ISO 13099